←返回IT,管理系统和软件类别

新软件为复杂的纳米表面分析提供完整的解决方案

针对工业AFM用户的Tosca™分析
由Digital Surf的Mountains®技术平台提供支持

继最近推出Tosca™400原子力显微镜之后,领先的科学仪器制造公司Anton Paar今天宣布推出基于Digital Surf的Mountains®表面分析技术的Tosca™分析软件。

用于Tosca™400 AFM的Tosca™分析软件

Tosca™400专为工业用户而设计,配有用于操作AFM的ToscaTM Control软件。 添加到新的Tosca™分析软件中,用户现在可以在各种应用领域进行复杂纳米表面分析的完整解决方案,包括半导体特性的表征和聚合物链的研究。

主要功能包括:

  • 实时3D多通道成像与覆盖
  • 使用ISO 3标准中定义的最新25178D参数表征表面纹理
  • 纳米尺度的最先进的几何和形态分析,包括颗粒和图案的高度,表面结构(凸起,孔)的体积,阶梯高度等。
  • 强大的自动化功能,适用于要求苛刻的应
  • 来自其他分析的表面数据的共同定位用于相关分析,例如拉曼化学图

Tosca™分析软件以11不同语言提供,带有用户友好的色带界面和带有基于图标的直观工具的上下文选项卡。

交互式工作流程允许随时进行全面的计量溯源和简单的微调。

以Excel,PDF和Word兼容的RTF格式生成表面分析报告从未如此简单。

此外,自动化工具有助于加速生产(例如,分析程序可以保存为模板并重新应用于批次)。

流程工业线人

相关新闻

发表评论

您的电子邮件地址将不会被发表。 必填字段标 *

本网站使用Akismet来减少垃圾邮件。 了解您的数据如何处理.